第2次补充 

IEC/TC 47  国外标准  1970年 下载次数(0)| 被引次数(0)

第3次补充 

IEC/TC 47  国外标准  1970年 下载次数(0)| 被引次数(0)

第6次补充 

IEC/TC 47  国外标准  1974年 下载次数(0)| 被引次数(0)

第11次补充 

IEC/TC 47  国外标准  1978年 下载次数(0)| 被引次数(0)

第13次补充 

IEC/TC 47  国外标准  1980年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则.第2部分:测量方法的一般原则 

IEC/TC 47  国外标准  1963年 下载次数(0)| 被引次数(0)

设计文件的更改 设计文件更改的原则和方法 

设计文件的更改 设计文件更改的原则和方法
  中国标准  1986年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
  中国标准  1997年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 

  中国标准  1982年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体集成电路线性放大器测试方法的基本原理 

  中国标准  1987年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 

半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理
  中国标准  1997年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理 

半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理
  中国标准  1997年 下载次数(0)| 被引次数(0)

用于通讯技术的半导体元件.测试方法.准则 

  国外标准  1965年 下载次数(0)| 被引次数(0)

第6次补充 

IEC/TC 47  国外标准  1982年 下载次数(0)| 被引次数(0)

第6次补充 

IEC/TC 47  国外标准  1973年 下载次数(0)| 被引次数(0)

共找到相关记录98条1234567下一页