用于实现受测试装置(DUT)的扫描测试的系统及方法 

本发明揭示用于启用受测试装置DUT的扫描测试的系统及方法。在一实施例中,一种用于扫描测试包含P扫描输入端口(145)及Q扫描输出端口(150)的所述DUT(110)的测试系统包含测试器(115)及适配器模块(120)。测试器(115)在时钟频率F1下操作且包含用于在F1下...
德州仪器公司  中国专利  2016年 下载次数(0)| 被引次数(0)

具有差错复原电路的系统和扫描输出电路 

在一个实施例中,提供了一种带有系统电路、扫描输出电路和差错检测电路的设备。所述系统电路适于响应于数据输入信号和系统时钟信号生成第一输出信号。所述扫描输出电路适于响应于所述数据输入信号和所述系统时钟信号生成第二输出信号。所述差错检测电路连...
英特尔公司  中国专利  2008年 下载次数(0)| 被引次数(0)

用于测试时间减少的方法和设备 

在用于测试集成电路(IC)的一种电路(100)的所述示例中,电路(100)包括接收N个扫描输入(102)并生成M个伪扫描输入(106)的输入转换器(104),其中M和N是整数。扫描压缩架构(110)耦合到输入转换器(104)并响应于M个伪扫描输入(106)生成P个伪`#~...
德克萨斯仪器股份有限公司  中国专利  2017年 下载次数(0)| 被引次数(0)

在最佳频率处理较慢的扫描输出 

在描述的用于测试集成电路的电路(200)的示例中,电路(200)包括由扫描时钟(230)驱动的扫描压缩体系结构(205)并生成M个扫描输出(220),其中M为整数。时钟分频器(232)被配置为将扫描时钟(230)除以k,以生成k个数量的相移扫描时钟,其中k为整...
德克萨斯仪器股份有限公司  中国专利  2016年 下载次数(0)| 被引次数(0)

用于动态分配扫描测试资源的电路和方法 

公开一种测试被测设备(DUT)的方法和测试系统。生成与从测试系统接收到的测试图案结构关联的至少一个控制信号(705)。从DUT中数量为M的I/O端口选择M1个端口,以基于控制信号接收对应于测试图案结构的扫描输入(710),以及从数量为M的I/O端口选择M2个端口,以基于控制信号提供扫描输出(71...
德克萨斯仪器股份有限公司  中国专利  2015年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体集成电路 

具有多个输入端子和输出端子的电路群。多个第1寄存器串联,每一个依次把所存储的数据转移到相邻的寄存器内且连接到上述多个输入端子中的每一个上。多个第2寄存器串联,每一个依次把所存储的数据转移到相邻的寄存器内且连接到上述多个输出端子中的每一个上。在上述分别串联连接的多个第1寄存器和多个第2寄存器的一端...
株式会社东芝  中国专利  2003年 下载次数(0)| 被引次数(0)

一种弱短路故障测试电路及其测试方法 

本发明实施例公开了一种硅通孔弱短路故障测试电路,该电路包括测试单元(101)、计数器(102)、扫描输出寄存器(103)和控制器(105),所述测试单元(101)的信号输出端与所述计数器(102)的信号输入端连接,所述计数器(102)的信号输出端与所述扫描输出寄存器(10...
中国人民解放军国防科学技术大学  中国专利  2017年 下载次数(0)| 被引次数(0)

扫描式起辉霓虹灯 

本实用新型属于灯具,更确切的说是一种扫描式起辉霓虹灯。一种扫描式起辉霓虹灯,由霓虹灯,电极,扫描输出电子变压器组成,其中,在霓虹灯上贴附导电材料电极,导电材料电极的一端与霓虹灯的起辉电极焊接连接,起辉电极通过导线与扫描输出电子变压器的输出端连接,霓虹灯的另一起...
刘文江  中国专利  2002年 下载次数(0)| 被引次数(0)

实现较快扫描链诊断的DFT方法 

在所描述的实例中,提供一种电路(100),其有助于连接于扫描链中的多个逻辑电路(135)的更快诊断。所述电路(100)包含第一多路复用器(105),其接收扫描数据输入(110)。触发器(125)耦合到所述第一多路复用器(105)的输出且产生扫描型式。反相器(145)响应于...
德州仪器公司  中国专利  2016年 下载次数(0)| 被引次数(0)

保护扫描链数据的电路 

提出了一种用于防止安全数据在扫描输出期间被读取的方法、设备和电路。多个扫描触发器耦合在扫描链中,并且输入电路配置用于将输入数据移至扫描触发器。保护电路耦合至扫描触发器,并且保护电路配置用于检测数据从输入电路向指定扫描触发器的`#~扫描...
NXP股份有限公司  中国专利  2012年 下载次数(0)| 被引次数(0)

在运行时间期间支持逻辑自测试模式引入的扫描链电路 

本公开涉及在运行时间期间支持逻辑自测试模式引入的扫描链电路。具体地,一种用于测试组合逻辑电路的扫描链包括连接至组合逻辑电路的触发器的第一扫描链路径以用于在组合逻辑电路的运行时间期间的功能模式操作。触发器的第二扫描链路径也连接至组合逻辑电路并且支持移位模式和捕捉模式二者。当...
意法半导体(格勒诺布尔2)公司  中国专利  2017年 下载次数(0)| 被引次数(0)

电容式套管末屏接线法在绕组变形测试中的应用研究 

提出了用套管末屏接线取扫描输出信号的新方法替代套管首端接线取扫描输出信号的旧方法,对两种方法的原理进行了对比分析,并通过现场试验验证了其可行性。试验结果表明,两种接线方法各个极值点即波峰、波谷对应频率和对应幅值具有一致性和对应性的关系,因此,新方法代替旧方法具有显著的可行性。
《四川电力技术》  2014年 第02期 下载次数(23)| 被引次数(0)

用于集成电路测试的低功率且面积优化的扫描单元 

本发明涉及用于集成电路测试的低功率且面积优化的扫描单元。一种集成电路包括扫描测试电路系统以及使用该扫描测试电路系统来进行测试的附加电路系统。扫描测试电路系统包括具有多个扫描单元的至少一条扫描链,该扫描链被配置成在扫描移位操作...
LSI公司  中国专利  2012年 下载次数(0)| 被引次数(0)

针对显示子系统的基于工作的时钟管理 

本发明提供一种用于启用或禁用针对硬件电路的一个或一个以上部分的时钟的系统和方法,所述硬件电路例如为个人计算机的显示子系统。处理器向第一电路产生命令或数据,所述第一电路经配置以至少基于所述命令或数据来执行功能。时钟产生器选择性地向所述第一电路和经配置以执行第二功能的第二电路供应时钟。耦合到所...
辉达公司  中国专利  2008年 下载次数(0)| 被引次数(0)

用于多芯片组件的具有可规划扫描链的装置及其规划方法 

本发明提供一种具有可规划扫描链的装置,此装置包括:一扫描链,具有一扫描输入端口与一扫描输出端口;多个第一输入/输出端口;一输入端口选择器,选择第一输入/输出端口其中之一,耦接扫描输入端口;多个第二输入/`#~输出`@...
旺玖科技股份有限公司  中国专利  2007年 下载次数(1)| 被引次数(0)

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