半导体工艺材料试验.半导体片几何尺寸测量.第1部分:厚度和厚度变化 

The method covers determination of the thickness of circular or D-shaped semiconductor wafers with any surface quality by using both contactless and conta...
  国外标准  1996年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体工艺材料的检验.用涡流法无接点测量半导体层的表面电阻 

  国外标准  1995年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体器件.金属氧化物半导体场效应管(MOSFETs)移动离子试验 

  国外标准  2010年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体器件.分立器件.第15部分:单独的电力半导体器件 

This part of IEC 60747 gives the requirements for isolated power semiconductor devicesexcluding devices with incorporated control circuits. These requirem...
IEC/SC 47E  国外标准  2010年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体器件的机械标准化 第1部分:半导体器件图形绘制 

Gives recommended practice for the preparation of drawings, specifying general rules for all drawings and additional rules for device and case outline drawings,...
IEC/TC 47  国外标准  1966年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体器件的机械标准化 第1部分:半导体器件图形绘制 补充1 

Supplements IEC 191-1 providing a replacement and an insertion concerning items 3.2.4 (page 19) and 3.3.6 (page 21), respectively.
IEC/TC 47  国外标准  1969年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体器件的机械标准化 第6部分:绘制表面安装半导体器件封装外形图的一般规则 修改1 

IEC/SC 47D  国外标准  1999年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体分立器件.电力开关设备的金属氧化物半导体场效应晶体管 

Gives details for the following categories of metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) with inverse diodes: type B depletion (normally...
BSI  国外标准  2004年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体材料电阻率的试验方法 

This standard was transferred to SEMI (www.semi.org) May 20031.1 The resistivity of a semiconductor material is an important materials acceptan...
F01.06  国外标准  1999年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体装置.机械和气候试验方法.第38部分:带存储的半导体装置用软错误试验 

  国外标准  2008年 下载次数(0)| 被引次数(0)

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