半导体器件的机械标准化.第6部分:表面安装半导体器件封装外壳外形图绘制规范 

BSI  国外标准  1992年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体技术试验.半导体片几何尺寸测定.第5部分:形状和平整度偏差术语 

  国外标准  2001年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体器件的机械标准化 第1部分:半导体器件图形绘制 补充2 

Supplements IEC 191-1 representing Appendix G, general philosophy of flat base devices.
IEC/TC 47  国外标准  1970年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体器件的机械标准化 第6部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 

IEC/TC 47  国外标准  1990年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体技术材料的试验.用电容--电压法和水银接点确定单晶层半导体材料中掺杂剂的浓度分布曲线 

Testing of materials for semiconductor technology; determination of the dopant concen-tration profile of single crystalline semiconductor material b...
  国外标准  1982年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体器件.第14-1部分:半导体传感器.传感器用总规范 

IEC/SC 47E  国外标准  2010年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路(不包括混合电路)分规范 

本份规范适用于已封装的半导体集成电路, 包括多片集成电路, 但不包括混合电路。
IEC/SC 47A  国外标准  1990年 下载次数(0)| 被引次数(0)

一致同意的用于半导体技术的标准材料的标准导则 

ASTM  国外标准  1994年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体分立器件.第8-4部分:电力开关装置用金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs) 

Gives details for the following categories of metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) with inverse diodes: type B depletion (normally...
IEC/SC 47E  国外标准  2004年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体器件.第10部分:分立器件和集成电路总规范 

  国外标准  1987年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体器件.电子器件质量评估协调体系电子元件.半导体分立器件.一般规范 

  国外标准  1986年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体器件.分立器件.第14-4部分:半导体感应器 

This part of IEC 60747 applies to semiconductor accelerometers for all types of products.This standard applies not only to typical semiconductor acc...
IEC/SC 47E  国外标准  2011年 下载次数(0)| 被引次数(0)

半导体分立器件.第15部分:绝缘电力半导体器件 

  国外标准  2005年 下载次数(0)| 被引次数(0)

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