超深亚微米SoC嵌入式可靠性失效预报技术研究 

半导体技术的飞速发展已经将集成电路技术带到了超深亚微米时代,这使得集成电路性能更好、集成度更高。集成电路从其诞生以来就朝着高性能和高可靠性两个方向不断发展。器件尺寸缩小、电路性能提升的同时,一些传统的可靠性失效机理,如栅氧经时击穿、热载流子注入、电迁移等对电路与器件的影响不但没有减轻,而且一些以前可以忽略的失效机理如,...
西安电子科技大学  博士论文  2014年 下载次数(386)| 被引次数(0)

非致冷红外焦平面的读出电路及测试系统研究 

红外焦平面阵列(IRFPA)是红外系统及热成像器件的关键部件,在军事及民用领域得到了广泛应用,西方各发达国家长期以来一直很重视红外焦平面阵列的开发和研制工作。微测辐射热计型的非致冷焦平面阵列(UFPA)是当前红外焦平面发展的重要方向之一,其结构一般包括两个部分:红外探测器阵列和读出电路(ROIC)。互补金属-...
华中科技大学  博士论文  2007年 下载次数(1054)| 被引次数(10)

数据包异步电路的关键技术研究 

在数字集成电路设计领域,随着半导体工艺进入到深亚微米阶段,主流的同步电路设计遇到了前所未有的挑战,异步电路逐渐引起了设计者的重视。基于单轨编码和数据包延时模型的异步电路尤其受到大多数设计人员的青睐,其具有面积代价小,功耗低,设计方法可与同步单轨逻辑兼容等优点。但是,数据包异步电路也存在工艺可移植性不强、抗差分...
华中科技大学  博士论文  2007年 下载次数(194)| 被引次数(1)

基于布尔可满足性的逻辑电路等价性验证和测试生成技术研究 

近些年在布尔可满足性(SAT)领域取得了较大进展,一系列基于DPLL框架的优化算法被提出,有效SAT解算器诸如zChaff等已可解决很大规模的SAT问题。SAT作为一个优秀引擎在EDA领域已广泛应用,本论文的主要方向就是探索如何有效地将SAT技术应用于等价性验证和测试生成这两类重要问题中。 下面概括本...
浙江大学  博士论文  2008年 下载次数(352)| 被引次数(4)

面向模拟和数模混合集成电路的自动布线方法研究 

随着集成电路技术的飞速发展,芯片中模拟电路和数模混合电路的比例越来越高,但传统的模拟电路版图自动设计系统大多从面向数字电路的系统中演变而来,没有充分考虑模拟电路的各种性能特征,无法满足模拟电路设计的需要。在这种背景下,本文提出了若干面向模拟和数模混合电路的自动布线方法,以解决版图自动化设计这一大课题下的自动...
清华大学  博士论文  2009年 下载次数(594)| 被引次数(1)

异步控制电路设计与实现关键技术研究 

随着电路规模的扩大、设计主频的提高以及制造工艺的限制,同步电路设计遇到了前所未有的挑战,时钟偏差、时序收敛以及时钟功耗等问题日益突出。相对而言,异步电路使用本地握手信号来控制电路各模块操作的时序,从根本上解决了同步电路所面临的许多问题,并以可移植性好、模块化程度高、电磁兼容性强等诸多优势,重新引起了设计人员...
国防科学技术大学  博士论文  2008年 下载次数(361)| 被引次数(5)

模拟电路软故障的智能优化诊断方法研究 

随着电子技术的飞速发展,为了有效缩短电子产品的上市时间,提高电子设备的可靠性,对模拟电路的故障诊断提出了越来越高的要求,使模拟电路故障诊断理论和方法研究成为了目前极具挑战性的前沿和热门课题。然而,由于模拟电路响应的非连续性、元件参数的连续可变和元件参数的容差等固有特点,模拟电路故障诊断方法发展缓慢,传统的故...
电子科技大学  博士论文  2010年 下载次数(600)| 被引次数(5)

DC-DC变流器的柔性变拓扑研究 

电力电子标准电源模块的普适化和通用化,是继电力电子电源模块标准化后,电力电子系统集成工作的进一步深入发展。标准电源模块的普适化和通用化,可在电力电子系统集成标准电源模块成功实际推广应用,从而形成电力电子产业新的推动力这一过程中,起到举足轻重的作用。变拓扑柔性变流器技术是电力电子标准电源模块普适化和通用化的具...
浙江大学  博士论文  2009年 下载次数(2120)| 被引次数(16)

基于数据触发的多核异步微处理器关键技术研究 

随着VLSI技术的迅猛发展与应用需求的不断提高,单纯依靠提高主频已经很难进一步提高微处理器的性能,采用以多核微处理器为代表的先进体系结构已经逐渐成为提高微处理器性能的主要途径。但是,多核微处理器中功耗、时钟偏移等问题将越来越严重。异步电路具有天然的低功耗优势且不存在时钟偏移问题,使得多核异步微处理器必然成为未来微处理器...
国防科学技术大学  博士论文  2010年 下载次数(312)| 被引次数(2)

SPIC设计方法与IP设计技术研究 

在现代超大规模集成电路和电力电子技术的推动下,功率集成电路发展迅速,获得了广泛的应用。近年来系统集成芯片和功率系统集成技术的发展更是对智能电源系统的开发提出了迫切的需求,从而进一步促进了对智能功率芯片设计技术的研究。因此,开展智能功率集成电路的设计方法学研究,研究开发各类智能电源类集成电路,开发具有自主知识产权的智能电...
浙江大学  博士论文  2005年 下载次数(502)| 被引次数(5)

基于小波和神经网络的大规模模拟电路故障诊断研究 

随着现代化电子技术的飞速发展,大规模集成电路的应用,网络规模和结构日趋功能化和模块化,研究如何运用现代诊断技术从大规模容差电路中准确地诊断出存在故障的子电路和元件,是实际工程迫切需要解决的课题,也是模拟电路故障诊断理论和方法走向实际应用的关键步骤之一。 本文运用遗传算法,在对电路响应的容差影响...
湖南大学  博士论文  2005年 下载次数(1736)| 被引次数(49)

集成电路寄存器传输级故障模型与测试生成研究 

随着集成电路设计技术的发展,其相应的测试也变得十分重要。测试生成为测试过程中的一个重要环节。本文首先综述了当前基于集成电路寄存器传输级(Register Transfer Level,简称RTL)的测试生成方法和验证方法。在此基础上给出作者所提出的RTL测试生成方法,同时考虑到当前RTL测试生成的困难在于缺少有效的故障...
中国科学院研究生院(计算技术研究所)  博士论文  2006年 下载次数(538)| 被引次数(0)

模拟电路神经网络故障诊断方法的研究 

本文将神经网络尤其是神经网络集成方法应用于模拟电路故障诊断中。模拟电路故障诊断相当于模式识别,本文论证了BP网络的分类功能并且构造了神经网络故障诊断系统。理论上指出了BP网络构造的故障诊断系统可以应用于任何电路,诊断任何类型故障。故障识别时需要得到最能反映故障分类的本质特征,提取合理的故障特征是...
吉林大学  博士论文  2006年 下载次数(1446)| 被引次数(18)

时序电路测试产生中一些关键技术的研究 

测试费用在芯片成本中所占的比重越来越大。随着当今VLSI电路规模的增大和密度的提高,对电路的测试产生变得十分困难。虽然可测性设计技术的采用使某些电路测试产生变得相对容易,但完全扫描电路设计也造成了芯片面积的增大和芯片性能的下降。更糟的是完全扫描设计对某些电路是不可能的。因此对时序电路测试产生的研究一直受到工业界和学术界...
中国科学院研究生院(计算技术研究所)  博士论文  1999年 下载次数(358)| 被引次数(1)

集成电路寄存器传输级测试生成 

集成电路(Integrated Circuit,简称IC)的设计验证与测试对保证其功能的正确性和可靠性非常重要,而时序电路测试生成则是其中一个相当困难的问题。本文在综述集成电路测试与设计验证的方法与技术的基础上,针对目前电路设计广泛采用的寄存器传输级(Register Transfer Leve...
中国科学院研究生院(计算技术研究所)  博士论文  2003年 下载次数(431)| 被引次数(2)

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